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電界イオン顕微鏡（FIM）関連洋書6冊
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商品詳細情報
| 管理番号 | 新品 ：13493637 | 発売日 | 2024/09/08 | 定価 | 15,555円 | 型番 | 13493637 | ||
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| カテゴリ | |||||||||
電界イオン顕微鏡（FIM）関連洋書6冊
●Field Ion Microscopy Principles and Applications Erwin W. Muller and Tien Tzou Tsong ●Field Emission And Field Ionization Robert Gomer ●ATOM-PROBE FIELD ION MiCROSCOPY Tien T. TSONG ●FIELD-ION MICROSCOPY John J.Hren S. Ranganathan ●FIELD-ION MICROSCOPY SERIES DEFFECTS IN CRYSTALLINE SOLIDS K.M. BOWKETT D.A. SMITH ●ATOM PROBE MICROANALYSIS Principles and Applications to Materials Problems M.K.Miller and G.D.W. Smith 自宅長期保管品です。 一部書き込みもあります。
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